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簡(jiǎn)要描述：半導(dǎo)體芯片控溫調(diào)試制冷加熱控溫設(shè)備電子測(cè)試熱系統(tǒng)在通過(guò)直流電時(shí)具有制冷功能，由于半導(dǎo)體材料具有可觀的熱電能量轉(zhuǎn)換性能特性，所以人們把熱電制冷稱為電子測(cè)試熱系統(tǒng)。電子測(cè)試熱系統(tǒng)可以通過(guò)優(yōu)化設(shè)計(jì)電子測(cè)試熱系統(tǒng)模塊，減小電子測(cè)試熱系統(tǒng)模塊的理想性能系數(shù)和實(shí)際性能系數(shù)間的差值，提高電子測(cè)試熱系統(tǒng)器的實(shí)際制冷性能。
產(chǎn)品型號(hào)：廠商性質(zhì)：生產(chǎn)廠家更新時(shí)間：2023-12-31訪 問(wèn) 量：649| 品牌 | LNEYA/無(wú)錫冠亞 | 產(chǎn)地類別 | 國(guó)產(chǎn) |
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半導(dǎo)體芯片控溫調(diào)試制冷加熱控溫設(shè)備
半導(dǎo)體芯片控溫調(diào)試制冷加熱控溫設(shè)備
半導(dǎo)體芯片控溫調(diào)試制冷加熱控溫設(shè)備
| 型號(hào) | TES-4525 / TES-4525W | |||||
| 溫度范圍 | -45℃～250℃ | |||||
| 加熱功率 | 2.5kW | |||||
| 制冷量 | 250℃ | 2.5kW | ||||
| 100℃ | 2.5kW | |||||
| 20℃ | 2.5kW | |||||
| 0℃ | 1.8kW | |||||
| -20℃ | 0.85kW | |||||
| -40℃ | 0.25kW | |||||
| 導(dǎo)熱介質(zhì)溫控精度 | ±0.3℃ | |||||
| 系統(tǒng)壓力顯示 | 制冷系統(tǒng)壓力采用指針式壓力表實(shí)現(xiàn)（高壓、低壓） 循環(huán)系統(tǒng)壓力采用壓力傳感器檢測(cè)顯示在觸摸屏上 | |||||
| 控制器 | 西門子PLC，模糊PID控制算法，具備串控制算法 | |||||
| 溫度控制 | 導(dǎo)熱介質(zhì)出口溫度控制模式 外接溫度傳感器：（PT100或4～20mA或通信給定）控制模式（串控制） | |||||
| 可編程 | 可編制10條程序，每條程序可編制45段步驟 | |||||
| 通信協(xié)議 | 以太網(wǎng)接口TCP/IP協(xié)議 | |||||
| 設(shè)備內(nèi)部溫度反饋 | 設(shè)備導(dǎo)熱介質(zhì)出口溫度、介質(zhì)溫度、制冷系統(tǒng)冷凝溫度、環(huán)境溫度、壓縮機(jī)吸氣溫度、冷卻水溫度（水冷設(shè)備有） | |||||
| 外接入溫度反饋 | PT100或4～20mA或通信給定 | |||||
| 串控制時(shí) | 導(dǎo)熱油出口溫度與外接溫度傳感器的溫度差可設(shè)定可控制 | |||||
| 溫差控制功能 | 設(shè)備進(jìn)液口溫度與出液口溫度的溫度差值可設(shè)定可控制（保護(hù)系統(tǒng)安全） | |||||
| 密閉循環(huán)系統(tǒng) | 整個(gè)系統(tǒng)為全密閉系統(tǒng)，高溫時(shí)不會(huì)有油霧、低溫不吸收空氣中水份，系統(tǒng)在運(yùn)行中不會(huì)因?yàn)楦邷厥箟毫ι仙?，低溫自?dòng)補(bǔ)充導(dǎo)熱介質(zhì)。 | |||||
| 加熱 | 指系統(tǒng)大的加熱輸出功率（根據(jù)各型號(hào)） 加熱器有三重保護(hù)，獨(dú)立溫度限制器，確保加熱系統(tǒng)安全 功率大于10kW采用調(diào)壓器，加熱功率輸出控制采用4～20mA線性控制 | |||||
| 制冷能力 | 指在不同的溫度具備帶走熱量的能力（理想狀態(tài)下），實(shí)際工況需要考慮環(huán)境散熱，請(qǐng)適當(dāng)放大，并且做好保溫措施。 | |||||
| 循環(huán)泵流量、壓力 max | 采用冠亞磁力驅(qū)動(dòng)泵/德國(guó)品牌磁力驅(qū)動(dòng)泵 | |||||
| 20L/min 2.5bar | ||||||
| 壓縮機(jī) | 法國(guó)泰康 | |||||
| 蒸發(fā)器 | 采用DANFOSS/高力板式換熱器 | |||||
| 制冷附件 | 丹佛斯/艾默生配件（干燥過(guò)濾器、油分離器、高低壓保護(hù)器、膨脹閥） | |||||
| 操作面板 | 無(wú)錫冠亞定制7英寸彩色觸摸屏，溫度曲線顯示\EXCEL 數(shù)據(jù)導(dǎo)出 | |||||
| 安全防護(hù) | 具有自我診斷功能；相序斷相保護(hù)器、冷凍機(jī)過(guò)載保護(hù)；高壓壓力開(kāi)關(guān)，過(guò)載繼電器、熱保護(hù)裝置等多種安全保障功能。 | |||||
| 制冷劑 | R-404A / R507C | |||||
| 接口尺寸 | G1/2 | |||||
| 外型尺寸（風(fēng)）cm | 45*85*130 | |||||
| 外型尺寸（水）cm | 45*85*130 | |||||
| 風(fēng)冷型 | 采用銅管鋁翅片冷凝方式，上出風(fēng)型式，冷凝風(fēng)機(jī)采用德國(guó)EBM軸流風(fēng)機(jī) | |||||
| 水冷型 W | 帶W型號(hào)為水冷型 | |||||
| 水冷冷凝器 | 套管式換熱器（帕麗斯/沈氏 ） | |||||
| 冷卻水量 at 25℃ | 0.6m3/h | |||||
| 電源 | 4.5kW max 220V | |||||
| 電源 | 可定制460V 60HZ、220V 60HZ 三相 | |||||
| 外殼材質(zhì) | 冷軋板噴塑 （標(biāo)準(zhǔn)顏色7035） | |||||
| 隔離防爆 | 可定制隔離防爆（EXdIIBT4) 無(wú)錫冠亞防爆產(chǎn)品安裝許可證號(hào)：PCEC-2017-B025 | |||||
| 正壓防爆 | 可定制正壓防爆(EXPXdmbIICT4) 正壓系統(tǒng)必須是水冷設(shè)備 無(wú)錫冠亞防爆產(chǎn)品安裝許可證號(hào)：PCEC-2017-B025 | |||||
無(wú)錫冠亞芯片高低溫測(cè)試機(jī)是針對(duì)電子元器件行業(yè)測(cè)試所推出的，那么，這類芯片高低溫測(cè)試機(jī)適用于那些行業(yè)呢？
經(jīng)過(guò)無(wú)錫冠亞的努力，其開(kāi)發(fā)生產(chǎn)的芯片高低溫測(cè)試機(jī)TES-4525、TES-4525W、TES-4555、TES-4555W、TES-45A10、TES-45A10W、TES-45A15、TES-45A25W、TES-45A25、TES-45A25W等型號(hào)可以用于中小規(guī)模數(shù)字集成電路邏輯功能及靜態(tài)直流參數(shù)測(cè)試，在微弱電流測(cè)試方面有良好的特性；用于二管、三管、VMOS、光電搞合器、可控硅等各種半導(dǎo)體分立器件進(jìn)行參數(shù)測(cè)試，測(cè)試原理符合國(guó)標(biāo)及軍標(biāo)要求，功率參數(shù)采用300uS脈沖測(cè)試，并采用數(shù)據(jù)、圖形雙重顯示。用于普通、化、時(shí)間等各類電磁繼電器參數(shù)的測(cè)試，在觸點(diǎn)接觸電阻和時(shí)間參數(shù)的測(cè)試方面有良好的特性，被我國(guó)國(guó)軍標(biāo)電磁繼電器生產(chǎn)線選用。
芯片高低溫測(cè)試機(jī)通用數(shù)字電路和接口電路的邏輯功能和靜態(tài)直流參數(shù)測(cè)試以及通用運(yùn)算放大器及電壓比較器的靜態(tài)直流參數(shù)測(cè)試，在微弱電壓、電流測(cè)試方面有良好的性能，適用于低失調(diào)和高阻等相同的測(cè)試。芯片高低溫測(cè)試機(jī)穩(wěn)壓器測(cè)試系統(tǒng)用于正壓、負(fù)壓、固定、可調(diào)三端集成穩(wěn)壓器參數(shù)的測(cè)試，采用四線測(cè)試原理，測(cè)試夾具全部采用3M公司原裝測(cè)試夾具，具有良好的測(cè)試精度。芯片高低溫測(cè)試機(jī)電磁繼電器介質(zhì)耐壓絕緣電阻測(cè)試系統(tǒng)用于電磁繼電器介質(zhì)耐壓和絕緣電阻等額的測(cè)試，測(cè)試貫注符合國(guó)軍標(biāo)要求。
微流體芯片測(cè)試原理
微流體芯片測(cè)試是芯片開(kāi)發(fā)以及生產(chǎn)過(guò)程中比較重要的一項(xiàng)設(shè)備，那么無(wú)錫冠亞微流體芯片測(cè)試的運(yùn)行原理大家了解多少呢？
微流體芯片測(cè)試?yán)没跀?shù)字信號(hào)處理的測(cè)試技術(shù)來(lái)測(cè)試，微流體芯片測(cè)試能并行地進(jìn)行參數(shù)測(cè)試，所以能減少測(cè)試時(shí)間，能把各個(gè)頻率的信號(hào)分量區(qū)分開(kāi)來(lái)（也就是能把噪聲和失真從測(cè)試頻率或者其它頻率分量中分離出來(lái)），所以能增加測(cè)試的精度和可重復(fù)性。
微流體芯片測(cè)試采樣用于把信號(hào)從連續(xù)信號(hào)（模擬信號(hào)）轉(zhuǎn)換到離散信號(hào)（數(shù)字信號(hào)），重建用于實(shí)現(xiàn)相反的過(guò)程。自動(dòng)測(cè)試設(shè)備（ATE）依靠采樣和重建給待測(cè)芯片（DUT）施加信號(hào)或者測(cè)量它們的響應(yīng)。測(cè)試中包含了數(shù)學(xué)上的和物理上的采樣和重建。
